г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14, помещение номер 23
info@ilpa-tech.ru
Беларусь
+375 (17) 270-07-81
+375 (29) 626-19-06
3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла работает в нанометровом масштабе, измеряя одновременно Bx, By и Bz. Уникальный микроскоп для количественного и не инвазивного анализа и формирования 3D-изображения магнитных полей поверхности в нанометровом масштабе.
3D-сканирующая зондовая микроскопия в масштабе нанометров: измеряйте BX, By & Bz одновременно!
Уникальный количественный и неинвазивный инструмент для изображения трехмерных поверхностных магнитных полей в нанометровом масштабе. Измерение 3 компонентов магнитного поля на поверхности образца с использованием 3D-SHPM при 77K.
Режимы визуализации
Размер сканера | ||
Головка сканирования большой площади | Стандартная сканирующая головка | Головка сканирования малой площади |
150 x 150 мкм @ 300 K | 52 x 52 мкм @ 300K | 8 x 8 мкм @ 300 K |
36 x 36 мкм @ 77 K | 14 x 14 мкм @ 77 K | 3.5 x 3.5 мкм @ 77 K |
18 x 18 мкм @ 4.2 K | 6 x 6 мкм @ 4.2 K | 1.5 x 1.5 мкм @ 4.2 K |
Z Диапазон | ||
7.0 мкм @ 300 K | 4.8 мкм @ 300 K | 2.4 мкм @ 300 K |
1.8 мкм @ 77 K | 1.2 мкм @ 77 K | 0.6 мкм @77K |
0.8 мкм @ 4.2 K | 0.5 мкм @ 4.2 K | 0.25 мкм @ 4.2K |
Размеры головки
23,6 мм наружного диаметра х 125 мм или
25,4 мм наружного диаметра х 100 мм
Подход к образцу
Тип - прилипание-скольжение; Диапазон 10 мм Z, Ø 3 мм XY с шагом 50 - 800 нм
Размер образца
максимум 15 x 15 x 5 мм
Температурный диапазон
10 мК - 400 К для LT-SHPM (ограничен криостатом)
Магнитное поле
> 16 Тл
Территория доставки оборудования распространяется по всем городам, в следующих странах:
Транспортировка осуществляется с помощью провернных курьерских служб, которые гарантируют сохранность дорогостоящего высокотехнологичного оборудования. Мы полностью берем на себя все заботы связанные с доставкой приборов до места назначения.
Транспортировка уже включена в стоимость товара.
Гарантия производителя Bio-Logic – 2 года на все приборы.
Наша компания осуществляет полную поддержку заказчиков по техническом вопросам, работе с програмным обеспечением, и ремонте оборудования в гарантийное и послегарантийное время.
К каждому прибору предусмотрено руководство на рус. и англ. языках. В случае возникновения нетипичных вопросов, мы привлекаем сотрудников из компании производителя.
Варианты и условия оплаты обсуждаются индивидуально с каждым заказчиком.
Мы работаем с:
В заивисимости от юридической формы организации/компании заказчика, мы предложим оптимальные варианты оплаты комфортные для обеих сторон.
Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)
Зондом, используемым в этом методе, является конусообразный ультрамикроэлектрод. Разрешение зависит от размера электрода. Прибор снабжен системой позиционирования, блоком управления, в котором размещаются два потенциостата / гальваностата / FRA, чтобы поляризовать как образец, так и электрод.
Сканирующий электрохимический микроскоп постоянного и переменного тока.
Измеряет локальную электрохимическую реакционную способность поверхности с использованием постоянного тока или импеданса зонда.
hpAFM обладает замечательными характеристиками: автоматическая юстировка, XY сканер с замкнутым контуром обратной связи, независимый Z-сканер, 10 МП видеомикроскоп.
г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
помещение номер 23
+375 (17) 270-07-81
+375 (29) 626-19-06
info@ilpa-tech.ru