Зондовые сканирующие рабочие станции в Челябинске

Зондовые сканирующие микроскопы обеспечивают формирование с помощью специального устройства, называющегося зондом изображение поверхности рассматриваемого объекта. С помощью такого микроскопа получают картинку 3D микроструктуры объектов. Это может быть, например атомная решётка, живая клетка, строение молекулярных соединений или интегральные схемы и прочее.

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Такое специальное оборудование сканирует поверхность объекта специальным зондом для получения качественного изображения 3D или обсервации локальных качеств при существенном увеличении. Такой микроскоп может производить регистрацию нескольких взаимодействий одновременно. Разрешающая способность для различных видов микроскопов может быть, начиная субмикронной заканчивая атомной.

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Пьезоэлектрические силовые агрегаты обеспечивают перемещение с высокой точностью. Картинка получается механическим перемещением специального сканирующего устройства по своеобразной траектории. Одновременно осуществляется регистрация координат рассматриваемого объекта.

Принцип работы оборудования

Функционирование микроскопа осуществляется путём взаимодействия специального зондирующего устройства с плоскостью образца. Движение осуществляется по нескольким координатам (координат может быть две или три). Зондирующее устройство плавно приближается к поверхности. Механическая стабильность в этом случае меньше 0,1 ангстрема. Специальная система развёртки. При небольшом промежутке между зондирующим устройством и образцом изучаемого материала взаимодействие сил проявляется различными эффектами. Регистрирование результатов осуществляется очень чувствительными сенсорами. Данное оборудование может «чувствовать» распределение магнитного поля над поверхностью объекта, строить график ВАХ или определять степень адгезии в любой точке исследуемого объекта. Микроскоп выстраивает карту поверхности с точными количественными значениями измеряемого параметра в любой точке.