Зондовые сканирующие рабочие станции в Уфе

Микроскопы с функцией сканирования пробы используют специальный зонд в целях формирования достоверного отображения всех нюансов поверхности. Используя СЗМ, специалисты получают возможность формировать 3D изображение микроскопической структуры объектов на уровне атомов, клеток, высокомолекулярных соединений, интегральных микросхем и т.д.

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Зондовый микроскоп выполняет сканирование при помощи зонда. В результате формируется объемное изображение или обсервация локальных параметров при существенном увеличении. В СЗМ поддерживается одновременная регистрация нескольких коммуникаций. Устройство обладает разрешением на уровне атомной - субатомной структуры.

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

За счет пьезоэлектрической двигательной системы происходит прецизионное перемещение с точностью менее нанометра. Картинка формируется за счет реализации процесса механического перемещения зонда для сканирования в соответствии с заданной траекторией, что представлена в виде растра, при этом регистрируются координаты положения сканера.

Особенности функционирования

Эксплуатация СКМ становится возможной за счет формирования тесной коммуникации между зондом и плоскостью исследуемого элемента. Чтобы реализовать перемещение сканера, можно задать две или три координаты. Зонд плавно сближается с исследуемым фрагментом. В результате достигаются высокие показатели механической стабильности. Интегрирован прецизионный комплекс развертки. Если расстояние между образцом и зондом небольшое, коммуникации между силами могут проявиться при помощи всевозможных явлений.

Результаты регистрируются благодаря интегрированной сенсорной системе с высоким уровнем чувствительности. Агрегат может идентифицировать распределение магнитных полей над исследуемым образцом, формирует карты электрических параметров, а также выявляет степень агдезивности на каждой точке. В результате формируется карта поверхности, где указываются точные значения исследуемых параметров.