Cканирующая станция прерывистого контакта BioLogic M470 - IC-SECM

Применение: батареи и интеркалированные соединения, коррозия и покрытия, EIS, электропокрытия, топливные ячейки и биотопливо, фундаментальная электрохимия, датчики, топография

Характеристики

Потенциостат

• Напряжение: ± 12 В
• Прикладываемый потенциал: ± 10 В FSR
• Разрешение: 32-бит (4,7 нВ)
• Измеряемый потенциал: ± 10 В FSR
• Разрешение: 24 бит (1,2 мкВ)
• Диапазоны тока: 10 диапазонов от 1 нА до 1 А
• Максимальный ток: 500 мА
• разрешение тока: 23.8 фA
• Точность:> 0,5%
• Работа с заземленными объектами: стандартно
• Количество подключений 2, 3 или 4
• Максимальная частота дискретизации АЦП: 4 МГц
• Максимальное разрешение АЦП: 24-битное
• Минимальная длительность импульса: 100 мкс
• Скорость сканирования: от 1 мкВ/с до 200 В/с

Модуль ic-SECM

• Расширение пьезокристалла 100 мкм
• Частота вибрации 80 - 600 Гц
• Контроль вибрации 20 нм - от 2 мкм до пика
• Минимальное приращение 1 нм
• Z разрешение разрешения 0,09 нм (пьезо)
• Разрешение топографии (запись) 20 нм

Технические характеристики системы позиционирования

Шаговые двигатели

• Диапазон сканирования (x, y, z): 110 мм x 110 мм x 110 мм
• Минимальный размер шага по всем осям: 20 нм
• Контур с линейным нулевым гистерезисом с замкнутым контуром с прямым считыванием в реальном времени смещения по x, y и z
• Разрешение датчика линейного положения: 20 нм.
• Макс.Скорость сканирования: 10 мм / с
• Разрешение измерений: 32-разрядный декодер @ до 40 МГц

Пьезоэлектрический элемент (только для оси z)

• Диапазон вибрации 20 нм - от 2 мкм до пика с шагом 1 нм
• Минимальное Разрешение вибрации: 0,12 нм рассчитано (16-разрядный ЦАП на 4 мкм)
• Расширение пьезокристалла: 100 мкм
• Разрешение позиционирования: 0,09 нм (20-разрядный ЦАП на 100 мкм)

Вариант прерывистой контактно-сканирующей электрохимической микроскопии модульной сканирующей электрохимической рабочей станции M470 компании BioLogic - это уникальная технология BioLogic.

Прерывистая контактно-сканирующая электрохимическая микроскопия (ic-SECM) - это метод сканирующей электрохимической микроскопии с постоянным расстоянием (SECM). С помощью ic-SECM пользователи могут измерять различные поверхностные активности и карты топографии поверхности. С помощью этого единственного эксперимента можно сопоставить характеристики образца и активность.

Техника ic-SECM доступна только на сканирующей электрохимической рабочей станции M470 компании BioLogic (по исключительной лицензии группы Unwin из Университета Уорвика).
При использовании ic-SECM расстояние между зондом и образцом может сохраняться на больших площадях и даже на очень грубых образцах. Он использовался для измерения чрезвычайно плоских образцов, чтобы устранить эффект наклона образца, обеспечивая самый сильный сигнал на протяжении всего измерения. ic-SECM нашел применение в исследованиях аккумуляторных батарей, в частности, для измерения твердотельных электролитов. Его можно использовать в исследованиях коррозии, особенно когда образец может быть слишком шероховатым для исследования методами SECM постоянной высоты.

Обзор: мощная, универсальная и простая в использовании система

• Одновременное измерение поверхностной активности и рельефа
• Кнопочный подход для автоматического поиска поверхности образца
• Наклон образца больше не проблема
• Доступно как для dc-SECM, так и для ac-SECM
• Более сильные сигналы 

Единое постоянное расстояние измерения SECM с выходными данными активности и топографии

SECM с постоянной высотой - самый популярный метод выполнения SECM, однако, поскольку активность образца и расстояние от зонда до образца влияют на сигнал SECM, может быть трудно определить, является ли измеренный сигнал результатом активности или топографии. Это может ограничить типы и размеры образцов, подходящие для измерения с помощью SECM постоянной высоты. Однако при использовании ic-SECM топография отслеживается на протяжении всего измерения, а это означает, что нет никаких сомнений в том, что измеренный сигнал связан с активностью образца. Стало возможным использование образцов ic-SECM, которые когда-то были недоступны для SECM. ic-SECM открывает возможность измерения гораздо больших площадей, чем при традиционных измерениях, потому что отслеживается наклон образца, а не вызывается вредное затухание сигнала. Более того, поскольку топография измеряется как отдельный результат, возможна корреляция между топографией и активностью.

э

Площадь внутренней части металлического каркаса 5,0 мм x 5,0 мм была измерена в 0,01 М H2SO4 с использованием 25 мкм Pt UME, смещенного на 0,65 В.

Кривая подхода не требуется

В ic-SECM пользователи могут использовать метод простого нажатия кнопки, который автоматически находит поверхность образца. Кнопочный подход основан на механическом устройстве управления, используемом в ic-SECM. Это означает, что подход ic-SECM может применяться даже в ситуациях, когда стандартная кривая подхода может быть затруднена даже для опытных пользователей, например, когда продукт коррозии поверхности является представляющим интерес окислительно-восстановительным медиатором.

Топография и наклон больше не проблема

Использование SECM с постоянной высотой ограничено, если образец имеет большие изменения топографии и / или большой наклон фона. В этих случаях сложность разделения влияния активности образца и топографии незначительна по сравнению с изменениями топографии, которые слишком велики для измерения чего-либо, кроме объемного сигнала в регионах. Это действительно может ограничить типы и размеры образцов, подходящие для измерения с помощью SECM постоянной высоты. Однако при использовании ic-SECM становятся возможными выборки, которые когда-то были недоступны для SECM. ic-SECM открывает возможность измерения гораздо больших площадей, чем при традиционных измерениях, потому что отслеживается наклон образца, а не вызывается вредное затухание сигнала. Позволяя зонду приближаться ближе, чем это было бы возможно при измерении с постоянной высотой, ic-SECM имеет дополнительное преимущество, заключающееся в том, что он также дает более сильный сигнал, чем это было бы возможно.