Cканирующая станция прерывистого контакта BioLogic M470 - IC-SECM

Применение: батареи и интеркалированные соединения, коррозия и покрытия, EIS, электропокрытия, топливные ячейки и биотопливо, фундаментальная электрохимия, датчики, топография

 

Характеристики

Потенциостат

  • Напряжение: ± 12 В
  • Прикладываемый потенциал: ± 10 В FSR
  • Разрешение: 32-бит (4,7 нВ)
  • Измеряемый потенциал: ± 10 В FSR
  • Разрешение: 24 бит (1,2 мкВ)
  • Диапазоны тока: 10 диапазонов от 1 нА до 1 А
  • Максимальный ток: 500 мА
  • разрешение тока: 23.8 фA
  • Точность:> 0,5%
  • Работа с заземленными объектами: стандартно
  • Количество подключений 2, 3 или 4
  • Максимальная частота дискретизации АЦП: 4 МГц
  • Максимальное разрешение АЦП: 24-битное
  • Минимальная длительность импульса: 100 мкс
  • Скорость сканирования: от 1 мкВ/с до 200 В/с

Модуль ic-SECM

  • Расширение пьезокристалла 100 мкм
  • Частота вибрации 80 - 600 Гц
  • Контроль вибрации 20 нм - от 2 мкм до пика
  • Минимальное приращение 1 нм
  • Z разрешение разрешения 0,09 нм (пьезо)
  • Разрешение топографии (запись) 20 нм

 

Технические характеристики системы позиционирования

Шаговые двигатели

  • Диапазон сканирования (x, y, z): 110 мм x 110 мм x 110 мм
  • Минимальный размер шага по всем осям: 20 нм
  • Контур с линейным нулевым гистерезисом с замкнутым контуром с прямым считыванием в реальном времени смещения по x, y и z
  • Разрешение датчика линейного положения: 20 нм.
  • Макс.Скорость сканирования: 10 мм / с
  • Разрешение измерений: 32-разрядный декодер @ до 40 МГц

Пьезоэлектрический элемент (только для оси z)

  • Диапазон вибрации 20 нм - от 2 мкм до пика с шагом 1 нм
  • Минимальное Разрешение вибрации: 0,12 нм рассчитано (16-разрядный ЦАП на 4 мкм)
  • Расширение пьезокристалла: 100 мкм
  • Разрешение позиционирования: 0,09 нм (20-разрядный ЦАП на 100 мкм)

 

Вариант прерывистой контактно-сканирующей электрохимической микроскопии модульной сканирующей электрохимической рабочей станции M470 компании BioLogic - это уникальная технология BioLogic.

Прерывистая контактно-сканирующая электрохимическая микроскопия (ic-SECM) - это метод сканирующей электрохимической микроскопии с постоянным расстоянием (SECM). С помощью ic-SECM пользователи могут измерять различные поверхностные активности и карты топографии поверхности. С помощью этого единственного эксперимента можно сопоставить характеристики образца и активность.

Техника ic-SECM доступна только на сканирующей электрохимической рабочей станции M470 компании BioLogic (по исключительной лицензии группы Unwin из Университета Уорвика).
При использовании ic-SECM расстояние между зондом и образцом может сохраняться на больших площадях и даже на очень грубых образцах. Он использовался для измерения чрезвычайно плоских образцов, чтобы устранить эффект наклона образца, обеспечивая самый сильный сигнал на протяжении всего измерения. ic-SECM нашел применение в исследованиях аккумуляторных батарей, в частности, для измерения твердотельных электролитов. Его можно использовать в исследованиях коррозии, особенно когда образец может быть слишком шероховатым для исследования методами SECM постоянной высоты.

 

Обзор: мощная, универсальная и простая в использовании система

  • Одновременное измерение поверхностной активности и рельефа
  • Кнопочный подход для автоматического поиска поверхности образца
  • Наклон образца больше не проблема
  • Доступно как для dc-SECM, так и для ac-SECM
  • Более сильные сигналы 

 

Единое постоянное расстояние измерения SECM с выходными данными активности и топографии

SECM с постоянной высотой - самый популярный метод выполнения SECM, однако, поскольку активность образца и расстояние от зонда до образца влияют на сигнал SECM, может быть трудно определить, является ли измеренный сигнал результатом активности или топографии. Это может ограничить типы и размеры образцов, подходящие для измерения с помощью SECM постоянной высоты. Однако при использовании ic-SECM топография отслеживается на протяжении всего измерения, а это означает, что нет никаких сомнений в том, что измеренный сигнал связан с активностью образца. Стало возможным использование образцов ic-SECM, которые когда-то были недоступны для SECM. ic-SECM открывает возможность измерения гораздо больших площадей, чем при традиционных измерениях, потому что отслеживается наклон образца, а не вызывается вредное затухание сигнала. Более того, поскольку топография измеряется как отдельный результат, возможна корреляция между топографией и активностью.

ic secm activity exampleic secm topography exampleэ

Площадь внутренней части металлического каркаса 5,0 мм x 5,0 мм была измерена в 0,01 М H2SO4 с использованием 25 мкм Pt UME, смещенного на 0,65 В.

 

Кривая подхода не требуется

В ic-SECM пользователи могут использовать метод простого нажатия кнопки, который автоматически находит поверхность образца. Кнопочный подход основан на механическом устройстве управления, используемом в ic-SECM. Это означает, что подход ic-SECM может применяться даже в ситуациях, когда стандартная кривая подхода может быть затруднена даже для опытных пользователей, например, когда продукт коррозии поверхности является представляющим интерес окислительно-восстановительным медиатором.

Топография и наклон больше не проблема

Использование SECM с постоянной высотой ограничено, если образец имеет большие изменения топографии и / или большой наклон фона. В этих случаях сложность разделения влияния активности образца и топографии незначительна по сравнению с изменениями топографии, которые слишком велики для измерения чего-либо, кроме объемного сигнала в регионах. Это действительно может ограничить типы и размеры образцов, подходящие для измерения с помощью SECM постоянной высоты. Однако при использовании ic-SECM становятся возможными выборки, которые когда-то были недоступны для SECM. ic-SECM открывает возможность измерения гораздо больших площадей, чем при традиционных измерениях, потому что отслеживается наклон образца, а не вызывается вредное затухание сигнала. Позволяя зонду приближаться ближе, чем это было бы возможно при измерении с постоянной высотой, ic-SECM имеет дополнительное преимущество, заключающееся в том, что он также дает более сильный сигнал, чем это было бы возможно.

Территория доставки оборудования распространяется по всем городам, в следующих странах:

  • Беларусь;
  • Российская Федерация;
  • Казахстан;

Транспортировка осуществляется с помощью провернных курьерских служб, которые гарантируют сохранность дорогостоящего высокотехнологичного оборудования. Мы полностью берем на себя все заботы связанные с доставкой приборов до места назначения. 

Транспортировка уже включена в стоимость товара.

Оставить комментарий

Гарантия производителя Bio-Logic – 2 года на все приборы.

Наша компания осуществляет полную поддержку заказчиков по техническом вопросам, работе с програмным обеспечением, и ремонте оборудования в гарантийное и послегарантийное время.

К каждому прибору предусмотрено руководство на рус. и англ. языках. В случае возникновения нетипичных вопросов, мы привлекаем сотрудников из компании производителя.

Варианты и условия оплаты обсуждаются индивидуально с каждым заказчиком.

Мы работаем с:

  • безналичной оплатой
  • наличной оплатой;
  • электронными платежными системами;

В заивисимости от юридической формы организации/компании заказчика, мы предложим оптимальные варианты оплаты комфортные для обеих сторон.

Задать вопрос

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод

Возможно, Вас так же заинтересует:

Локальный переменный ток, протекающий через образец при синусоидальной модуляции потенциала и приводящий к локальному импедансу образца, измеряется с помощью двухэлектродного зонда. Система включает в себя систему позиционирования, электрометрическую плату, плату потенциостата/ гальваностата / FRA, которые могут размещаться в блоке управления.

Локализованная электрохимическая импедансная спектроскопия.
Измеряет полный импедансный в определенной точке или пространственно разрешенном импедансе на одной частоте проводящего образца.

AQUA nc-AFM отличает возможность работы с бесконтактными кантилеверами. Отличная конструкция позволяет работать с радиочастотно-модулированным лазерным диодом со сверхнизким значением уровня шума (30фм/√Гц).

 

Измеряя потенциал металлического зонда, экранированный металлическим цилиндром, измеряется потенциал Кельвина, также называемый контактной разностью потенциалов. Прибор включает в себя систему позиционирования, электрометрическую плату, LIA (Lock-In Amplifier), все они размещаются в блоке управления.

Сканирующий зонд Кельвина.
Измеряет локальный потенциал Кельвина, который связан с контактной разностью потенциалов между наконечником и образцом.

Форма заказа

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами