Зондовые сканирующие рабочие станции в Тамбове

Микроскопы, ориентированные на сканирование, оперируют с зондами для визуализации поверхности объекта, подлежащего анализу. С помощью сканирующих зондовых микроскопов возможно создать трехмерное цифровое изображение микроструктуры объекта, включая атомные решетки, клетки, структуры соединений, интегральные микросхемы и другие элементы.

Работа сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) связана с взаимодействием между зондом и поверхностью образца, который подлежит изучению. Микроскоп способен перемещаться вдоль 2-3 координат, обеспечивая плавное приближение зонда к поверхности. Механическая стабильность при этом составляет менее 0,1 ангстрема, а также встроена система точной развертки. При небольшом расстоянии между зондом и образцом возникают различные эффекты, связанные с коммуникациями между ними.

Результаты исследования зафиксированы с помощью высокочувствительных сенсоров. Устройство способно регистрировать распределение магнитных полей, создавать карту электрических параметров и оценивать уровень адгезии на каждой точке исследуемой области. В то же время оно формирует карту поверхности, указывая точные значения измеряемых характеристик на каждой точке объекта исследования.