г. Минск, пер. Тучинский, 4, каб. №12
info@ilpa-tech.ru
Беларусь
+375 (29) 626-19-06

Высокоточные сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic теперь доступны и в СНГ
Сканирующие зондовые микроскопы (SPM – Scanning Probe Microscope) формируют изображение поверхности объекта на основе информации, полученной при взаимодействии с ней сверхтонкого зонда. Это позволяет получить трехмерную цифровую картинку очень мелких деталей структуры, таких как: атомарные решетки, органеллы живых клеток, детали строения крупных органических молекул.

Красные кровяные клетки
Органический монокристалл
Кобальт на сапфире
В ходе перемещения зонда СЗМ над поверхностью образца происходит регистрация сразу нескольких взаимодействий, возникающих между ними. Это позволяет проводить комплексный анализ деталей строения объекта с разрешением в диапазоне от субмикронного до атомного.
Наноструктурированный моносубстрат
Многостенные углеродные нанотрубки
Поликапролактон
Наличие пьезоэлектрических двигателей обеспечивает смещение зонда с высочайшей, точностью. При этом получается растровое изображение с регистрацией координат, которое затем обрабатывается при помощи специализированного ПО.
Прибор функционирует за счет регистрации сил взаимодействия, возникающих между поверхностью образца и сверхтонкой иглой-зондом, помещенной на предельно близкое расстояние к ней. Смещение зонда возможно, как по двум, так и по трем координатам, использование двигателей особой конструкции и ряда дополнительных систем обеспечивает его предельную плавность и стабильность до 0,1 ангстрема.
В приборе используются комплекс высокочувствительных датчиков, которые регистрируют различные взаимодействия, такие как распределение магнитных полей над поверхностью объекта, ее вольтамперные характеристики, степень адгезивности. В дальнейшем эти данные применяют для построения объемной цифровой модели структуры образца.

Еще одно существенное достоинство методики – возможность проводить исследования в практически любых средах (в вакууме, жидкости, воздухе, специальных газовых смесях). Совокупность этих преимуществ сделала сканирующую микроскопию одним из лучших современных методов изучения структуры материи.
г. Минск, пер. Тучинский, 4, каб. №12
+375 (29) 626-19-06
info@ilpa-tech.ru