Зондовые сканирующие рабочие станции в Тюмени

Основной задачей сканирующего зондового микроскопа (SPM) является формирование при помощи зонда изображения с поверхности различных объектов. Благодаря данному устройству можно получить трехмерную цифровую картинку микроструктуры объекта любой сложности, будь то интегральная микросхема, клетка организма, высокомолекулярное соединение или атомная решетка.

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Зондовые микроскопы способны детально сканировать поверхность изучаемого объекта, предоставляя вам как пространственное изображение, так и детальную картинку с той или иной локации. Разрешающие мощности зондовых микроскопов варьируются в пределах от субмикронной до атомной. Такой прибор в одно и то же время может регистрировать сразу несколько взаимодействий.

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Благодаря пьезоэлектрическому мотору устройство получило способность к претензионным перемещениям и субнанометровой точности. Изображение микроскоп получает посредством перемещения его сканирующего зонда по заранее заданной траектории. В процессе перемещения зонд регистрирует координаты своего местоположения и передает полученные с поверхности визуальные данные.

Принципы функционирования микроскопа

Функционирование сканирующего зондового микроскопа обеспечивается взаимодействием, происходящим между плоскостью исследуемого объекта и зондом, при этом движение можно задавать по нескольким, к примеру, трем координатам. Процесс сближения сканирующего элемента с поверхностью идет максимально плавно, при наличии небольшого пространства между объектом и элементом сканирования взаимодействие сил проявляет себя в виде разнообразных эффектов. Показатель механической стабильности приспособления составляет меньше 0,1 ангстрема.

Результаты проводимого исследования регистрируются с помощью сверхчувствительных сенсоров. Помимо этого, прибор способен определять распределение магнитных полей над изучаемым объектом, он может выстраивать карты вольт-амперных характеристик и карты изучаемых поверхностей с передачей точных количественных значений любого исследуемого им параметра.