Зондовые сканирующие рабочие станции в Белгороде

Сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic

Высокоточные сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic теперь доступны и в СНГ

 

Характеристики сканирующих зондовых микроскопов

 

Зондовые микроскопы предназначены для сканирования и используют зонды для визуализации поверхности объектов, подлежащих исследованию. С помощью сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ) создаются трехмерные цифровые изображения микроструктур объектов, таких как атомные решетки, клетки, структуры соединений, интегральные микросхемы и многое другое.

Сканирующий зондовый микроскоп в Москве

 

 

Красные кровяные клетки

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Кобальт на сапфире

С использованием зонда возможно формирование пространственного изображения или наблюдение за локальными параметрами с значительным увеличением масштаба. Эти микроскопы способны одновременно регистрировать несколько видов взаимодействий. Разрешающая способность устройства зависит от его типа, существуют модели, способные отобразить атомную или даже субатомную структуру.

Наноструктурированный моносубстрат

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Поликапролактон

Система пьезоэлектрических двигателей обеспечивает точное движение с высокой точностью до субнанометрового уровня. Формирование окончательного изображения происходит благодаря механическому перемещению сканирующего зонда по предварительно заданной траектории в виде растра, в то время как координаты его положения регистрируются.

 

Принцип функционирования

Работа сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) заключается во взаимодействии микрозонда с атомами объекта, подлежащего исследованию. Движение зонда может осуществляться как в двух, так и в трех координатах. Очень важно обеспечить плавное приближение к поверхности объекта, для чего необходима механическая стабильность на уровне не более 0,1 Ангстрема. Это создает оптимальные условия для регистрации воздействия различных физических сил на зонд.

Зарегистрированные силы, воздействующие на зонд, подвергаются анализу при помощи сверхчувствительных датчиков. Эти датчики позволяют измерять распределение магнитных полей на поверхности, определять адгезию в каждой точке контакта и создавать карту электрических (вольт-амперных) характеристик. Устройство способно регистрировать все эти параметры, а их анализ и обработка осуществляются при помощи специализированных программ для трехмерного моделирования, что позволяет исследовать структуру вещества на атомном уровне.

Схема работы СЗМ

 

Плюсы микроскопа

  • избирательностьВысокий уровень избирательности;
  • универсальностьСпособность работы в любой среде;
  • оперативное сканированиеОперативное сканирование;
  • изучение электропроводностиВозможность изучения поверхностей с электропроводностью и без неё;
  • ИнертностьСильная устойчивость к помехам.

 

Эти преимущества в сочетании с уникальной разрешающей способностью способствовали быстрому и широкому распространению таких устройств. Они используются не только в научных исследованиях, но также находят применение в области контроля качества и других производственных сферах.

 

 

Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами