Зондовые сканирующие рабочие станции в Твери

Сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic

Высокоточные сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic теперь доступны и в СНГ

 

Особенности сканирующих зондовых микроскопов

 

Микроскопы со сканирующим зондом (SPM - Scanning Probe Microscope) создают изображение поверхности объекта, используя информацию, полученную при взаимодействии с ней ультратонким зондом. Этот метод позволяет создавать трехмерные цифровые изображения мельчайших деталей структуры, таких как атомарные решетки, органеллы в живых клетках и элементы структуры крупных органических молекул.

Сканирующий зондовый микроскоп в Москве

 

 

Красные кровяные клетки

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Кобальт на сапфире

В процессе перемещения зонда СЗМ над поверхностью образца фиксируется одновременно несколько взаимодействий, происходящих между ними. Такой подход обеспечивает возможность проведения всестороннего анализа структурных деталей объекта с разрешением от субмикронного до атомного уровня.

Наноструктурированный моносубстрат

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Поликапролактон

Применение пьезоэлектрических двигателей обеспечивает высокоточное перемещение зонда. Это позволяет создавать растровые изображения с точной регистрацией координат, которые затем подвергаются обработке с использованием специализированного программного обеспечения.

 

Принцип работы

Прибор функционирует путем регистрации сил взаимодействия, возникающих между поверхностью образца и сверхтонкой зондовой иглой, находящейся на крайне близком расстоянии от нее. Смещение зонда возможно как по двум, так и по трём координатам. Использование особых двигателей и дополнительных систем обеспечивает его плавность и стабильность до 0,1 ангстрема.

В приборе применяются высокочувствительные датчики, регистрирующие разнообразные взаимодействия, такие как распределение магнитных полей над поверхностью объекта, его вольтамперные характеристики и степень адгезии. Эти данные затем используются для построения объемной цифровой модели структуры образца.

Схема работы СЗМ

 

Преимущества СЗМ

  • избирательностьВысокая избирательность. Она позволяет регистрировать прибору определенные взаимодействия, а также комплексные силы разной природы.
  • оперативное сканированиеВысокая скорость работы. Современные устройства способны изучать объект с минимальным временным затратами.
  • изучение электропроводности

    Возможно исследовать поверхности, проводящие и непроводящие ток.

  • ИнертностьПомехоустойчивость. Достигается за счет применения специальных фильтров и программной обработки данных

 

Дополнительным значимым преимуществом данной методики является возможность проведения исследований в практически любых условиях, таких как в вакууме, жидкости, воздухе и специальных газовых смесях. Этот комплекс преимуществ сделал сканирующую микроскопию одним из ведущих и современных методов анализа структуры материи.

 

 

Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами