Зондовые сканирующие рабочие станции в Рязани

Основной задачей сканирующего зондового микроскопа является формирование и передача качественной картинки с поверхности конкретного объекта. Цифровое трехмерное изображение получают вследствие взаимодействия зонда устройства с поверхностью определенного предмета, что позволяет досконально исследовать микроструктуру различных объектов, к примеру, строение клеток, состав сложного высокомолекулярного соединения, решетку атома и т.д.

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Сканирование с помощью СЗМ позволит вам получить высококачественное пространственное изображение со значительной степенью увеличения заданных участков. Устройство одновременно регистрирует два, три и более взаимодействия, его разрешающие возможности достаточно широки и варьируются от субмикронных до атомных.

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Микроскоп имеет пьезоэлектрический мотор, который обеспечивает ему субнанометровые в плане точности прецизионные перемещения. Получение картинки основано на механическом перемещении зонда по заданной исследователем траектории.

Основы функционирования СЗМ

Функционирование прибора основано на взаимодействии между зондом и изучаемой поверхностью. Двигаясь по заданным координатам, зонд плавно сближается с объектом, одновременно передавая полученные сведения. Показатель механической стабильности устройства составляет около 0,1 ангстрема, при наличии небольших промежутков между сканирующим элементом и исследуемым объектом взаимодействие сил может проявить себя в виде различных эффектов.

Процесс регистрации полученных результатов осуществляют сверхчувствительные сенсоры. СЗМ определяет наличие над исследуемой поверхностью магнитных полей, это устройство может заниматься построением полноценных карт объекта с точными количественными значениями для всех заявленных показателей, измеряемых в заданных точках поверхности. Также данный микроскоп позволит вам узнать степень адгезивности в тех или иных точках изучаемой поверхности.