Зондовые сканирующие рабочие станции в Краснодаре

Сканирующие зондовые микроскопы – это приборы, формирующие посредством зонда изображение с поверхности определенных объектов. При помощи данных устройств можно получить трехмерное цифровое изображение микроструктуры какого-либо объекта, к примеру, решетки атома, высокомолекулярного соединения, микросхемы или клетки живого организма.

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

В качестве сканирующего поверхность элемента на таких микроскопах применяют зонд, который и предоставляет пространственную картинку исследуемого объекта либо обсервацию локальных свойств при его существенном увеличении. Пользуясь зондовым микроскопом, можно одновременно зарегистрировать не одно, а два и более взаимодействия. Разрешающие возможности этих устройств заметно отличаются (от субмикронной до атомной) в зависимости от разновидности микроскопа.

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Пьезоэлектрический мотор позволяет обеспечить прецизионный тип перемещения соблюдая субнанометровую точность. Картинку получают благодаря перемещениям зонда, который передвигается по требуемой траектории, регистрируя координаторы своего местоположения..

Принципы работы СЗМ

Функционирование прибора базируется на взаимодействии плоскости исследуемого объекта с зондом. Движение зонда может идти по нескольким (двум либо трем) координатам, само приближение к исследуемому образцу происходит максимально плавно и осторожно. Показатель механической стабильности составляет меньше 0,1 ангстрема, предусмотренная система развертки – прецизионная. При остающемся незначительном участке, разделяющем зонд и поверхность образца, взаимодействие начинает проявляться в виде разнообразных эффектов.

Итоги проводимого исследования регистрируют высокочувствительные сенсоры. СЗМ способен распознать магнитное поле, расположенное над исследуемой поверхностью, построить карту с вольт-амперными характеристиками и определить уровень адгезивности в любой из точек объекта. Благодаря ему можно построить карту поверхности, содержащую точные качественные значения измеряемых вами параметров во всех точках обследуемого образца.