Зондовые сканирующие рабочие станции в Костроме

Сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic

Высокоточные сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic теперь доступны и в СНГ

 

Особенности сканирующих зондовых микроскопов

 

Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ) применяют специальные зонды для изучения и визуализации поверхности исследуемого объекта. Эти устройства позволяют создавать цифровые трёхмерные изображения микроструктур объектов, таких как атомные решетки, клетки, структуры соединений и интегральные микросхемы.

Сканирующий зондовый микроскоп в Москве

 

 

Красные кровяные клетки

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Кобальт на сапфире

Зондовый микроскоп сканирует поверхность благодаря передовым технологическим решениям. Используя зонд, он создает пространственное изображение или измеряет локальные параметры с значительным увеличением. СЗМ может одновременно фиксировать несколько типов взаимодействий. Разрешающая способность прибора варьируется в зависимости от его типа, и существуют модели, способные отображать атомные и субатомные структуры.

Наноструктурированный моносубстрат

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Поликапролактон

Пьезоэлектрическая система двигателей позволяет достигать прецизионного движения с точностью до субнанометров. Изображение создается посредством механического перемещения сканирующего зонда по заданной траектории в виде растра, при этом фиксируются его координаты.

 

Система функционирования

Работа СЗМ связана с взаимодействием между зондом и исследуемой поверхностью образца. Возможна навигация по двум-трём осям координат. Зонд плавно приближается к поверхности. Механические параметры обладают стабильностью менее 0,1 ангстрема. Встроена прецизионная система сканирования. При малом расстоянии между зондом и образцом возникают различные эффекты взаимодействия.

Результаты исследования фиксируются высокочувствительными сенсорами. Устройство может определять распределение магнитных полей, создавать карту электрических параметров и измерять уровень адгезии в каждой точке исследуемой области. Одновременно прибор строит карту поверхности с точными значениями измеряемых характеристик в каждой точке объекта.

Схема работы СЗМ

 

Достоинства

  • избирательностьОтличный уровень избирательности.
  • универсальностьВозможность работать в любой среде.
  • оперативное сканированиеБыстрое сканирование.
  • изучение электропроводностиВозможность изучения поверхности с электропроводностью и без нее.
  • ИнертностьИнертность к различным помехам.

 

Дополнительным значимым достоинством данной методики является возможность проведения исследований в практически любых условиях, таких как в вакууме, жидкости, воздухе и специальных газовых смесях. Этот комплекс преимуществ сделал сканирующую микроскопию одним из ведущих и современных методов анализа структуры материи.

 

 

Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами