Зондовые микроскопы купить в Кирове с доставкой, цены, характеристики

Зондовые сканирующие рабочие станции в Кирове

Сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic

Высокоточные сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic теперь доступны и в СНГ

 

Особенности сканирующих зондовых микроскопов

 

Зондовые сканирующие микроскопы (SPM/СЗМ) позволяют получить изображение поверхности исследуемого объекта с чрезвычайно высоким разрешением. При помощи такого исследовательского прибора можно получать точную 3D-структуру разнообразных объектов, в том числе: живых клеток, атомных решеток неорганических материалов, высокомолекулярных полимеров, интегральных чипов/микросхем.

Сканирующий зондовый микроскоп в Москве

 

 

Красные кровяные клетки

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Кобальт на сапфире

Прибор функционирует за счет сканирования поверхности специальным игольчатым зондом. Он обеспечивает не только получение не только данных о рельефе поверхности объекта с атомарным разрешением, но и регистрирует данные о разнообразных локальных свойствах поверхности. Также прибор дает возможность регистрировать сразу несколько типов взаимодействия одновременно.

Наноструктурированный моносубстрат

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Поликапролактон

Для прецизионного перемещения зонда используются особые пьезоэлектрические двигатели. Они обеспечивают плавное перемещение зонда с точностью до долей нанометра. Готовое трехмерное изображение формируется путем компьютерной обработки получаемых от зонда растровых данных.

 

Принцип работы СЗМ

Устройство функционирует за счет взаимодействия между зондом и поверхностью исследуемого объекта. Так как игла двигается на минимальном расстоянии от объекта, между ними возникают разнообразные силы взаимодействия, воздействие которых на зонд регистрируется высокочувствительными датчиками. Перемещение зонда осуществляется плавно, как по двум, так и по трем координатам, с механической стабильностью до 0,1 А.

В большинстве случаев регистрируется рельеф поверхности, а также магнитные поля и вольтамперные характеристики. Затем на основе этих данных строятся трехмерные карты поверхности образца с точно отмеченными результатами измерений в каждой точке. Нужно отметить, что в ходе работы устройства регистрируется множество помех. Поэтому устранение шумов и фильтрация помех является одним из основных направлений при разработке новых моделей СЗМ.

Схема работы СЗМ

 

Преимущества сканирующих микроскопов

  • избирательностьВысокая скорость и избирательность.
  • универсальностьПроведение исследований в разных средах (вакуум, воздух, жидкости).
  • изучение электропроводностиВозможность изучать как проводящие поверхности, так и изоляторы.

 

Нужно отметить и высокую помехоустойчивость современных СЗМ, которая достигается как специальными фильтрами помех, так и продвинутыми методиками компьютерной обработки данных.

 

 

Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами