г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14, помещение номер 23
info@ilpa-tech.ru
Беларусь
+375 (17) 270-07-81
+375 (29) 626-19-06
Высокоточные сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic теперь доступны и в СНГ
Сканирующий зондовый микроскоп (SPM) – это сложный исследовательский прибор, позволяющий изучать строение поверхности различных объектов со сверхвысоким разрешением. Последующая обработка информации, поступающей от зонда, обеспечивает возможность построения высокодетализированной, трехмерной структуры таких объектов как атомные решетки, высокомолекулярные органические соединения, органеллы живых клеток, интегральные микросхемы.
Красные кровяные клетки
Органический монокристалл
Кобальт на сапфире
В ходе работы прибора специальный зонд сканирует поверхность исследуемого объекта смещаясь вдоль него на предельно близком расстоянии. Это позволяет регистрировать различные силы, возникающие между материалом образца и зондом, а также изучать детали локальных свойств поверхности в высочайшем разрешении.
Наноструктурированный моносубстрат
Многостенные углеродные нанотрубки
Поликапролактон
Современные СЗМ способны одновременно регистрировать несколько параметров, что существенно сокращает время исследования и позволяет повысить его научную и практическую ценность.
Устройство функционирует за счет регистрации непосредственного взаимодействия сверхтонкого зонда и сканируемой поверхности. Его смещение осуществляется за счет особых пьезоэлектрических моторов, которые обеспечивают субнанометровую точность изменения координат. Причем перемещение возможно по 2-м или по 3-м координатам, а механическая стабильность достигает 0,1 А.
При перемещении зонда по определенной траектории формируется растровое изображение с регистрацией точных координат и замерами различных сил взаимодействия. Эти данные сохраняются в цифровом виде и в дальнейшем обрабатываются при помощи специального ПО. Современные приборы дают возможность строить картинку в режиме реального времени, по мере прохождения процесса сканирования. Для измерения различных взаимодействий и локальных свойств поверхности применяют высокочувствительные сенсоры. Они позволяют регистрировать распределение магнитных полей, строить точнейшую карту вольт-амперных характеристик и получать множество других ценных данных.
К главным достоинствам таких исследовательских систем относят:
Нужно отметить и высокую помехоустойчивость СЗМ. Она достигается за счет тщательной калибровки всех узлов и наличия дополнительных фильтров помех. Немалый вклад в устранение помех вносит цифровая обработка получаемых данных при помощи специального ПО.
г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
помещение номер 23
+375 (17) 270-07-81
+375 (29) 626-19-06
info@ilpa-tech.ru