Зондовые сканирующие рабочие станции в Оренбурге

Сканирующей зондовой микроскопией (СЗМ) называют совокупность методов по изучению локальных свойств той или иной поверхности с помощью специальных микроскопов, отличающихся очень высоким разрешением. Ни один научный либо технологический процесс современности не обходится без применения подобных устройств.

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Сканирующий зондовый микроскоп формирует картинку при помощи зонда, который и занимается непосредственным изучением исследуемой поверхности. Благодаря такому устройству можно получать качественные трехмерные изображения различных сложных объектов, к примеру, решеток атома и клеток живого организма. СЗМ способен зарегистрировать сразу два или три взаимодействия, а разрешающие способности прибора простираются от субмикронных до атомных.

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Устройство снабжают пьезоэлектрическим мотором, что помогает исследователям проводить каждое перемещение с субнаномерной точностью. Итоговая картинка является результатом механического перемещения элемента сканирования по определенным заранее координатам с их последовательной регистрацией.

Принципы работы СЗМ

Принципы функционирования устройства основываются на взаимодействии зонда с исследуемым объектом. Сканирующий элемент медленно приближается к объекту, после чего начинает перемещаться по заданным заранее координатам. Его механическая стабильность не превышают 0,1 ангстрема, микроскоп снабжен прецизионной системой разверстки. При образовании между исследуемым объектом и зондом незначительных промежутков взаимодействие сил можно наблюдать в виде различных эффектов.

Итоги работы фиксируют сверхчувствительные сенсоры. Кроме того, микроскоп распознает расположенные над исследуемой поверхностью магнитные поля, может строить карты с вольт-амперными характеристиками, определяет уровень адгезивности в отдельных точках и составляет карты изучаемых им участков с точным указанием всех исследуемых параметров.