Cканирующая станция BioLogic M470 - LEIS

Области применения: Коррозия и покрытия, EIS

Характеристики

Потенциостат

• Напряжение: ± 12 В
• Прикладываемый потенциал: ± 10 В FSR
• Разрешение: 32-бит (4,7 нВ)
• Измеряемый потенциал: ± 10 В FSR
• Разрешение: 24 бит (1,2 мкВ)
• Диапазоны тока: 10 диапазонов от 1 нА до 1 А
• Максимальный ток: 500 мА
• разрешение тока: 23.8 фA
• Точность:> 0,5%
• Работа с заземленными объектами: стандартно
• Количество подключений 2, 3 или 4
• Максимальная частота дискретизации АЦП: 4 МГц
• Максимальное разрешение АЦП: 24-битное
• Минимальная длительность импульса: 100 мкс
• Скорость сканирования: от 1 мкВ/с до 200 В/с

Возможности EIS

• Диапазон частот: от 1 мкГц до 1 МГц
• Точность анализатора: 0,1%, 0,1 °
• Частотное разрешение 66 нГц
• Режим Single sine, Multisine, FFT-анализ

Электрометр

• Импеданс: 10¹³ Ω II 7 пФ типичный
• Ток смещения: 1 пA типичный
• Полоса пропускания: 1 МГц

Технические характеристики системы позиционирования

Шаговые двигатели

• Диапазон сканирования (x, y, z): 110 мм x 110 мм x 110 мм
• Минимальный размер шага по всем осям: 20 нм
• Контур с линейным нулевым гистерезисом с замкнутым контуром с прямым считыванием в реальном времени смещения по x, y и z
• Разрешение датчика линейного положения: 20 нм.
• Макс.Скорость сканирования: 10 мм / с
• Разрешение измерений: 32-разрядный декодер @ до 40 МГц

Пьезоэлектрический элемент (только для оси z)

• Диапазон вибрации 20 нм - от 2 мкм до пика с шагом 1 нм
• Минимальное Разрешение вибрации: 0,12 нм рассчитано (16-разрядный ЦАП на 4 мкм)
• Расширение пьезокристалла: 100 мкм
• Разрешение позиционирования: 0,09 нм (20-разрядный ЦАП на 100 мкм)

Описание

Спектроскопия локализованного электрохимического импеданса выполняется в модульной системе BioLogic M470 с опцией LEIS470.

Спектроскопия локализованного электрохимического импеданса (LEIS) - это метод электрохимии сканирующего зонда, который измеряет электрохимический импеданс с пространственным разрешением. Измерение LEIS основано на объемной спектроскопии электрохимического импеданса (EIS), в которой импеданс измеряется как функция от приложенной частоты. В LEIS двухэлектродный зонд используется для измерения местного переменного тока, протекающего в электролите над смещенным образцом. При запуске LEIS на M470 исследователи могут выполнять как стационарные локальные измерения EIS, так и измерения сканирования, в которых импеданс отображается на одной частоте. Эти сканирующие измерения иногда называют картированием локализованного электрохимического импеданса (LEIM).

LEIS широко используется в исследованиях покрытий и коррозии. С помощью LEIS было исследовано большое количество систем из чистых и легированных металлов. Эффективность различных покрытий для защиты от коррозии, а также возможности различных интеллектуальных покрытий были исследованы с помощью LEIS. Помимо коррозии, LEIS находит применение в исследованиях электродов батарей для сравнения различных составов батарей и различных состояний заряда.

Измерение LEIS золотой точки 200 мкм в воде.

Обзор: узнайте местный импеданс вашего образца

• Развертки и карты местного импеданса
• Полностью интегрированная система

Измерение образцов с покрытием или без покрытия

LEIS широко используется при изучении эффективности покрытий для защиты основного металла. Несмотря на то, что образец действует как рабочий электрод в исследованиях LEIS, можно измерять образцы, даже если образец имеет низкую электрохимическую активность, например образцы с покрытием. Это возможно, потому что природа эксперимента LEIS означает, что его можно настроить, изменив частоту переменного тока, применяемую во время измерения. Используя низкую частоту, LEIS можно использовать для отображения местного импеданса непокрытых проводящих образцов. Однако, если необходимо измерить образец с покрытием, это возможно за счет использования высокой частоты измерения.

Измерение отклика образца без воздействия зонда

LEIS представляет собой пятиэлектродную экспериментальную установку. Образец, эталон и счетчик образуют традиционную трехэлектродную ячейку, на которой выполняется измерение EIS. Зонд представляет собой двухэлектродный электрод, который отделен от интересующей ячейки и вместо этого контролирует только эту ячейку. Поскольку двухэлектродный зонд не участвует непосредственно в трехэлектродной ячейке, он не влияет на происходящие здесь процессы. Следовательно, измеренный импеданс не является искажением взаимодействия между зондом и образцом, а вместо этого является прямым отражением импеданса образца.