Зондовые сканирующие рабочие станции в Томске

Сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic

Высокоточные сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic теперь доступны и в СНГ

 

Характеристики сканирующих зондовых микроскопов

 

Зондовые микроскопы предназначены для проведения сканирования и используют зонды для визуализации поверхности объектов, подвергаемых исследованию. Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ) способствуют созданию трехмерных цифровых изображений микроструктур объектов, таких как атомные решетки, клетки, структуры соединений, интегральные микросхемы и прочее.

Сканирующий зондовый микроскоп в Москве

 

 

Красные кровяные клетки

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Кобальт на сапфире

С помощью зонда происходит формирование пространственного изображения или наблюдение за локальными параметрами, с существенным увеличением масштабов. Эти микроскопы способны одновременно регистрировать несколько видов взаимодействий. Разрешающая способность устройства зависит от его типа. Существуют аппараты, способные отобразить атомную или даже субатомную структуру.

Наноструктурированный моносубстрат

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Поликапролактон

Пьезоэлектрическая система двигателей обеспечивает высокоточное движение с точностью до субнанометра. Окончательное изображение формируется благодаря механическому перемещению сканирующего зонда по заданной траектории в виде растра, в то время как координаты положения регистрируются.

 

Принцип функционирования

Работа СЗМ заключается во взаимодействии микрозонда с атомами объекта исследования. Движение может осуществляться как по двум, так и по трём координатам. Важно обеспечить плавное приближение к поверхности объекта, для чего необходима механическая стабильность на уровне не более 0,1 Ангстрема. Это создает наилучшие условия для регистрации воздействия разнообразных физических сил на зонд.

Зарегистрированные воздействующие на зонд силы анализируются с использованием сверхчувствительных датчиков. Эти датчики позволяют измерять распределение магнитных полей на поверхности, определять адгезию во всех точках контакта и создавать карту электрических (вольт-амперных) характеристик. Устройство способно регистрировать все эти параметры, и их анализ и обработка выполняются с использованием специализированных программ для 3D-моделирования, что позволяет изучать структуру вещества на атомном уровне.

Схема работы СЗМ

 

Плюсы микроскопа

  • избирательностьВысокий уровень избирательности;
  • универсальностьВозможность работы в любой среде;
  • оперативное сканированиеОперативное сканирование;
  • изучение электропроводностиСпособность изучения поверхностей с электропроводностью и без неё;
  • ИнертностьВысокая устойчивость к помехам.

 

Эти положительные характеристики в сочетании с уникальной разрешающей способностью привели к быстрому и широкому распространению таких устройств. Они применяются не только в научных исследованиях, но также находят применение в задачах контроля качества и других производственных сферах.

 

 

Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами