Зондовые сканирующие рабочие станции в Астане

Сканирующим зондовым микроскопом (или СЗМ) называют устройство по детальному сканированию, главной отличительной чертой которого является наличие специального зонда. Именно благодаря ему микроскоп может предоставить вам подробное трехмерное изображение с изучаемой им поверхности, в том числе и таких сложных объектов, как интегральные микросхемы и атомные решетки.

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Как указывалось выше, процесс сканирования основывается на работе специального сканирующего зонда, предоставляющего вам полноценное цифровое изображение поверхности изучаемого объекта, при этом, СЗМ может обеспечивать качественные и значительные увеличения даже микроскопических участков. Устройство осуществляет одновременную регистрацию сразу двух либо трех взаимодействий, его разрешающие возможности варьируются в пределах от субмикронных до атомных и зависят от разновидности конкретного прибора.

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Пьезоэлектрический мотор позволяет обеспечивать максимально точное и выверенное перемещение зонда по плоскости объекта. По сути, получаемая картинка является результатом механического перемещения сканирующего элемента по заранее заданной исследователем траектории.

Основы функционирования микроскопа

Функционирование микроскопа обеспечивается благодаря взаимодействию зонда с поверхностью изучаемого объекта. Перемещаясь сразу по нескольким координатам, зонд плавно сближается с поверхностью и фиксирует полученное изображение. Показатель механической стабильности прибора составляет около 0,1 ангстрема, он оснащен прецизионной системой развертки. При наличии небольших промежутков между сканирующим элементом и объектом исследования взаимодействие сил проявляет себя в виде разнообразных эффектов.

Результаты сканирования регистрируют сверхчувствительные сенсоры, прибор выявляет наличие магнитных полей над изучаемой плоскостью, он способен выстраивать карты с вольт-амперными характеристиками и фиксировать степень адгезивности на отдельных точках исследуемого объекта. Карта поверхности выстраивается на основе полученных количественных значений всех заявленных к изучению параметров.