Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)

Характеристики

Размер образца:
15 х 15 х 5 мм (макс.)

Волоконный интерферометр шума:
15 фм / √Гц

Диапазон температур:
20 мК - 300 К (зависит от криостата)

Магнитное поле:
16 Т (в зависимости от магнита)

Рабочее давление:
До 1E-6 мбар

Обработка сигналов:

  • Современный контроллер на базе FPGA;
  • Реконфигурируемое цифровое оборудование для максимальной производительности;
  • Процессор реального времени с 128 МБ памяти DDR SDRAM;
  • Высокоскоростной интерфейс USB2.0, 480 Мбит/с для интерфейса ПК.

Текущий диапазон:
G = −1 В/нА, 1 пА - диапазон 10 нА, минимальный уровень шума <8fA / √Гц

Аппаратные средства обратной связи реализованы:
2 канала цифровых ПИД-регуляторов с частотой 200 кГц

ВХОДЫ:
Любые 24/32-битные цифровые входы от PLL и т. д. Или любой аналоговый вход (с 24-битным АЦП)

ВЫХОДЫ:
24-битные цифро-аналоговые преобразователи и 24-битные цифровые выходы

Цифровой усилитель PLL / Lock-in

Диапазон частот: 100 Гц - 1 МГц
Разрешение: 1 мкГц
Ширина полосы демодуляции: 50 Гц - 5 кГц
Вход: ± 10 В, частота дискретизации: 50 МГц при 16-битном разрешении
Выход: 32-битный цифровой DF и фаза / 16-битный аналоговый DF и фаза
Обратная связь с постоянной амплитудой или постоянное возбуждение
Ширина полосы цифрового фильтра: 10 Гц - 3 кГц, регулируемая

АЦП (высокая скорость)
2 канала 16-битных аналого-цифровых преобразователей при 50 МГц;
± 10 В входной диапазон; 1 МГц Баттерворт LPF 4-го порядка

ЦАП (высокая скорость)
2 канала 16-битных цифро-аналоговых преобразователей при 50 МГц;
Выходной диапазон ± 10 В (один используется для напряжения смещения)

Сканирование ЦАП (высокое разрешение)
4 канала 24-битных цифро-аналоговых преобразователей @ 62,5 кГц;
± 10 В Выходной диапазон

ЦАП
2 24-битных и 12 16-битных цифро-аналоговых преобразоателей;

± 10 В Выходной диапазон

АЦП (высокое разрешение)
Одновременно сэмплированы 16 каналов по 24 бит аналого-цифровых преобразователей 200 кГц;
± 10 В входной диапазон; 10 кГц 4-й порядок Баттерворт LPF

Усилители высокого напряжения
4-х канальные малошумные высоковольтные усилители для привода с колебанием ± 200 В

Двигатель грубого приближения

  • Регулируемый высоковольтный импульсный генератор: ± 200 В;
  • Скорость нарастания: 400 В / 2 мкс при емкостной нагрузке 33 нФ;
  • 19 каналов ползунковых выходов программируемых выходов с механическими реле;
  • Выбор формы волны ползунка: Экспоненциальная / t2 / линейная / экспоненциальная обратная по времени;
  • Пользовательский интерфейс с помощью джойстика и программного обеспечения.

Каналы обработки изображений

Одновременное сканирование 16 каналов АЦП при 8192x8192 пикселей

Требования к питанию

100/110/220/240 В переменного тока, 50/60 Гц, 400 ВА

Программное обеспечение и драйверы

  • Исходный код написан на C # и DirectX 11 для 64-битной ОС;
  • LabView ™ драйверы для скриптинга;
  • Настройка программного обеспечения по запросу.

 

LT-AFM / MFM Обзор

LT-AFM / MFM - это система атомно-силовой микроскопии без выравнивания, оснащенная волоконным интерферометром, работающим при 1310 нм, уровне шума 15 фм / √ Гц с рабочим диапазоном 20 мК-300 К и магнитным полем до 16 Тл.

Конструкция без выравнивания создает удобное использование; оптоволоконный интерферометр переносит свет с помощью оптоволоконного кабеля относительно конца кантилевера и используется для измерения отклонения кантилевера; тем временем обеспечивая магнитное разрешение 10 нм при 4K. Выравнивающие чипы с тремя выступами, совместимые с коммерческими консольными устройствами, устраняют необходимость в оптическом выравнивании конечным пользователем.

LT-AFM / MFM позволяет характеризовать материалы, предлагая различные режимы визуализации; Зондовая сканирующая зондовая микроскопия, магнитно-силовая микроскопия, электро-силовая микроскопия, силовая микроскопия с зондом Кельвина, проводящая АСМ.

Контрольно-измерительные приборы и уникальный дизайн микроскопа LT-AFM / MFM позволяют настраивать его для различных размеров криостата.

Головка микроскопа состоит из двух концентрических пьезотрубок; внутренняя пьезотрубка для сканирования и внешняя для позиционирования образца.

Сканирующий пьезоэлемент состоит из квадрантных электродов и пьезоэлемента дизеринга для сглаживания кантилевера и поставляется с тремя различными вариантами по запросу.

Подход к образцу осуществляется с помощью скользящего движения; допускается движение 10 мм по оси Z и Ø3 мм по оси XY с чувствительностью 50 нм.

Электронные сигналы генерируются мощным elctronic LT-AFM / MFM через выходы BNC; переносится в микроскоп через соединения LEMO.

 

Территория доставки оборудования распространяется по всем городам, в следующих странах:

  • Беларусь;
  • Российская Федерация;
  • Казахстан;

Транспортировка осуществляется с помощью провернных курьерских служб, которые гарантируют сохранность дорогостоящего высокотехнологичного оборудования. Мы полностью берем на себя все заботы связанные с доставкой приборов до места назначения. 

Транспортировка уже включена в стоимость товара.

Оставить комментарий

Гарантия производителя Bio-Logic – 2 года на все приборы.

Наша компания осуществляет полную поддержку заказчиков по техническом вопросам, работе с програмным обеспечением, и ремонте оборудования в гарантийное и послегарантийное время.

К каждому прибору предусмотрено руководство на рус. и англ. языках. В случае возникновения нетипичных вопросов, мы привлекаем сотрудников из компании производителя.

Варианты и условия оплаты обсуждаются индивидуально с каждым заказчиком.

Мы работаем с:

  • безналичной оплатой
  • наличной оплатой;
  • электронными платежными системами;

В заивисимости от юридической формы организации/компании заказчика, мы предложим оптимальные варианты оплаты комфортные для обеих сторон.

Задать вопрос

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод

Возможно, Вас так же заинтересует:

Зонд SECM поддерживается на постоянном расстоянии от образца. Грубые, большие, неравномерные образцы могут быть изучены с использованием этого режима с dc- или ac-SECM. В дополнение к системе ac / dc-SECM для этого требуется только дополнительный пьезоэлемент и два LIA (Lock-In Amplifier), размещенные в блоке управления.

SECM прерывистого контакта.
Измеряет локальную реакционную способность поверхности на постоянном расстоянии вместо постоянной высоты.

Новый сканирующий туннельный микроскоп ezSTM обладает превосходными характеристиками по доступной цене.для студенческих лабораторий, школ, нанотехнологических и фундаментальных исследований.

3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла работает в нанометровом масштабе, измеряя одновременно Bx, By и Bz. Уникальный микроскоп для количественного и не инвазивного анализа и формирования 3D-изображения магнитных полей поверхности в нанометровом масштабе.

Форма заказа

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами