Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп AFM / MFM (HPAFM)

Характеристики

Сканер:

  • 24-битный и 5, 10, 40, 100 мкм XY диапазон сканирования;
  • 24-битный 2,4,6,8,12,15 мкм Z диапазон сканирования;
  • Разрешение 0,01 нм;
  • Линеаризованное сканирование по всем осям с оптическими датчиками;
  • Вакуумный держатель образцов до 8 дюймов;
  • Независимый Z-сканер;
  • Может удерживать образцы до 500 гр.

Z моторизованная сцена

  • Диапазон 50 мм, разрешение 250 нм

XY моторизованная сцена

  • Диапазон 76 мм, разрешение 50 нм

Модуль AFM

  • РЧ-модулированный малошумный лазер 635 нм;
  • Минимальный уровень шума 25 фмГц (макс.) ;
  • Магнитное разрешение <14 нм со сверхострыми кантилеверами.

Видеомикроскоп

  • 10-мегапиксельная CMOS камера
  • Запись и обработка изображений с помощью цветной CMOS камеры
  • Оптический зум
  • Оптическое разрешение 0,7 мкм

Акустическая и виброизоляция

  • Акустический тепло- и виброизоляционный шкаф;
  • Изолирующий шкаф с контролируемой атмосферой (опция);
  • 0,3 Гц виброизоляционный стол;
  • Дополнительная система нагрева и охлаждения от -30 ° C до +350 ° C.

 

 hpafm1 min

Обзор hpAFM

hpAFM - это современный атомно-силовой микроскоп, который обеспечивает новый уровень производительности, функциональности, дизайна и возможностей. Он разработан, чтобы минимизировать затрачиваемое время, а также чтобы получить лучшие результаты. Работаете ли вы в жидкости или в воздухе, в материаловедении или микробиологии - данный аппарат подойдет всем сферам. hpAFM предлагает отличные функции, такие как работа без выравнивания, сканер сгибания с замкнутым контуром, z-сканер с развязкой, видеомикроскоп на 10 Мп и множество гибких режимов работы.

 

Автоматическая юстировка

Общая проблема установки кантилевера в АСМ заключается в изменении положения лазера и фотодиода после замены кантилевера. Лазер должен быть повторно выровнен с кантилевером, и, в конечном счете, образец должен быть перемещен. hpAFM предлагает систему без выравнивания для решения этой проблемы. Каждый кантилевер, установленный на hpAFM, будь то в воздухе или в жидкости, будет автоматически и точно выровнен для продолжения экспериментов без перенастройки лазера и фотодиода. Все кантилеверы оснащены канавками и будут точно выровнены при монтаже.

 

Сканер с замкнутым контуром обратной связи

XY-сканер hpAFM на основе обратной связи использует оптический датчик, который используется для контроля положения площадки в режиме реального времени. Эти показания передаются обратно в контроллер, чтобы обеспечить исправление ошибок для сканирования. Управление с обратной связью гарантирует, что пьезосканер достигает желаемой заданной позиции. Оно также обеспечивает быстрое и точное позиционирование с минимальным пьезодрейфом, что очень важно для АСМ-сканирования.

 

Независимый Z-сканер

Одной из наиболее часто используемых конфигураций AFM является трубчатый сканер благодаря простоте его изготовления. Однако у него есть некоторые недостатки: из-за своей геометрии трубчатые сканеры имеют нелинейность, они изгибаются при использовании всего спектра сканера. В hpAFM XY-сканер располагается под образцом, а Z-сканер помещается в головку, чтобы уменьшить перекрестные помехи между ними.

 

Видеомикроскоп

hpAFM имеет очень хороший оптический микроскоп, который имеет разрешение 700 нм с 5-кратным оптическим увеличением и фокусировкой с программным управлением. 8-мегапиксельная цифровая камера дает возможность видеть образец сверху и позволяет пользователю исследовать область на поверхности образца с одинаковым качеством как в воздухе, так и в жидкости.

 

Режимы работы

  • Контактный режим АСМ;
  • Микроскопия латеральных сил (сил трения) (LFM);
  • Динамический режим АСМ с фазовой визуализацией;
  • Бесконтактный режим АСМ с цифровым ФАПЧ;
  • Жидкая АСМ;
  • Магнитно-силовая микроскопия (MFM);
  • Электростатическая силовая микроскопия (EFM);
  • Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ);
  • Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PRFM);
  • Атомно-силовая микроскопия проводимости (CAFM) / Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM);
  • АСМ литография;
  • Модуляционная силовая микроскопия (FMM);
  • Силовая микроскопия с зондом Кельвина (KPFM);
  • Нано механическая визуализация (NMI);
  • Наноиндентирование.

Территория доставки оборудования распространяется по всем городам, в следующих странах:

  • Беларусь;
  • Российская Федерация;
  • Казахстан;

Транспортировка осуществляется с помощью провернных курьерских служб, которые гарантируют сохранность дорогостоящего высокотехнологичного оборудования. Мы полностью берем на себя все заботы связанные с доставкой приборов до места назначения. 

Транспортировка уже включена в стоимость товара.

Оставить комментарий

Гарантия производителя Bio-Logic – 2 года на все приборы.

Наша компания осуществляет полную поддержку заказчиков по техническом вопросам, работе с програмным обеспечением, и ремонте оборудования в гарантийное и послегарантийное время.

К каждому прибору предусмотрено руководство на рус. и англ. языках. В случае возникновения нетипичных вопросов, мы привлекаем сотрудников из компании производителя.

Варианты и условия оплаты обсуждаются индивидуально с каждым заказчиком.

Мы работаем с:

  • безналичной оплатой
  • наличной оплатой;
  • электронными платежными системами;

В заивисимости от юридической формы организации/компании заказчика, мы предложим оптимальные варианты оплаты комфортные для обеих сторон.

Задать вопрос

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод

Возможно, Вас так же заинтересует:

Измеряя потенциал металлического зонда, экранированный металлическим цилиндром, измеряется потенциал Кельвина, также называемый контактной разностью потенциалов. Прибор включает в себя систему позиционирования, электрометрическую плату, LIA (Lock-In Amplifier), все они размещаются в блоке управления.

Сканирующий зонд Кельвина.
Измеряет локальный потенциал Кельвина, который связан с контактной разностью потенциалов между наконечником и образцом.

Сканирующие микроскопы с зондом Кельвина для систем 3He и 3He и криогенных рефрижераторов для измерений при температурах ниже 1K. Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина, МСМ, СТМ, АСМ и другие режимы работы доступны в mK-SPM.

Зонд SECM поддерживается на постоянном расстоянии от образца. Грубые, большие, неравномерные образцы могут быть изучены с использованием этого режима с dc- или ac-SECM. В дополнение к системе ac / dc-SECM для этого требуется только дополнительный пьезоэлемент и два LIA (Lock-In Amplifier), размещенные в блоке управления.

SECM прерывистого контакта.
Измеряет локальную реакционную способность поверхности на постоянном расстоянии вместо постоянной высоты.

Форма заказа

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Поделиться в соцсетях:

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • г. Минск, 220 073, ул. Скрыганова, 14,
    помещение номер 23

  • +7 (969) 077-72-72 (WhatsApp)

  • +375 (17) 270-07-81

  • +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами