Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп AFM / MFM (HPAFM)

Характеристики

Сканер:

• 24-битный и 5, 10, 40, 100 мкм XY диапазон сканирования;
• 24-битный 2,4,6,8,12,15 мкм Z диапазон сканирования;
• Разрешение 0,01 нм;
• Линеаризованное сканирование по всем осям с оптическими датчиками;
• Вакуумный держатель образцов до 8 дюймов;
• Независимый Z-сканер;
• Может удерживать образцы до 500 гр.

Z моторизованная сцена

• Диапазон 50 мм, разрешение 250 нм

XY моторизованная сцена

• Диапазон 76 мм, разрешение 50 нм

Модуль AFM

• РЧ-модулированный малошумный лазер 635 нм;
• Минимальный уровень шума 25 фмГц (макс.) ;
• Магнитное разрешение <14 нм со сверхострыми кантилеверами.

Видеомикроскоп

• 10-мегапиксельная CMOS камера
• Запись и обработка изображений с помощью цветной CMOS камеры
• Оптический зум
• Оптическое разрешение 0,7 мкм

Акустическая и виброизоляция

• Акустический тепло- и виброизоляционный шкаф;
• Изолирующий шкаф с контролируемой атмосферой (опция);
• 0,3 Гц виброизоляционный стол;
• Дополнительная система нагрева и охлаждения от -30 ° C до +350 ° C.

Обзор hpAFM

hpAFM - это современный атомно-силовой микроскоп, который обеспечивает новый уровень производительности, функциональности, дизайна и возможностей. Он разработан, чтобы минимизировать затрачиваемое время, а также чтобы получить лучшие результаты. Работаете ли вы в жидкости или в воздухе, в материаловедении или микробиологии - данный аппарат подойдет всем сферам. hpAFM предлагает отличные функции, такие как работа без выравнивания, сканер сгибания с замкнутым контуром, z-сканер с развязкой, видеомикроскоп на 10 Мп и множество гибких режимов работы.

Автоматическая юстировка

Общая проблема установки кантилевера в АСМ заключается в изменении положения лазера и фотодиода после замены кантилевера. Лазер должен быть повторно выровнен с кантилевером, и, в конечном счете, образец должен быть перемещен. hpAFM предлагает систему без выравнивания для решения этой проблемы. Каждый кантилевер, установленный на hpAFM, будь то в воздухе или в жидкости, будет автоматически и точно выровнен для продолжения экспериментов без перенастройки лазера и фотодиода. Все кантилеверы оснащены канавками и будут точно выровнены при монтаже.

Сканер с замкнутым контуром обратной связи

XY-сканер hpAFM на основе обратной связи использует оптический датчик, который используется для контроля положения площадки в режиме реального времени. Эти показания передаются обратно в контроллер, чтобы обеспечить исправление ошибок для сканирования. Управление с обратной связью гарантирует, что пьезосканер достигает желаемой заданной позиции. Оно также обеспечивает быстрое и точное позиционирование с минимальным пьезодрейфом, что очень важно для АСМ-сканирования.

Независимый Z-сканер

Одной из наиболее часто используемых конфигураций AFM является трубчатый сканер благодаря простоте его изготовления. Однако у него есть некоторые недостатки: из-за своей геометрии трубчатые сканеры имеют нелинейность, они изгибаются при использовании всего спектра сканера. В hpAFM XY-сканер располагается под образцом, а Z-сканер помещается в головку, чтобы уменьшить перекрестные помехи между ними.

Видеомикроскоп

hpAFM имеет очень хороший оптический микроскоп, который имеет разрешение 700 нм с 5-кратным оптическим увеличением и фокусировкой с программным управлением. 8-мегапиксельная цифровая камера дает возможность видеть образец сверху и позволяет пользователю исследовать область на поверхности образца с одинаковым качеством как в воздухе, так и в жидкости.

Режимы работы

• Контактный режим АСМ;
• Микроскопия латеральных сил (сил трения) (LFM);
• Динамический режим АСМ с фазовой визуализацией;
• Бесконтактный режим АСМ с цифровым ФАПЧ;
• Жидкая АСМ;
• Магнитно-силовая микроскопия (MFM);
• Электростатическая силовая микроскопия (EFM);
• Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ);
• Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PRFM);
• Атомно-силовая микроскопия проводимости (CAFM) / Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM);
• АСМ литография;
• Модуляционная силовая микроскопия (FMM);
• Силовая микроскопия с зондом Кельвина (KPFM);
• Нано механическая визуализация (NMI);
• Наноиндентирование.