Зондовые сканирующие рабочие станции

SECM150 устанавливает новый стандарт для исследования SECM. SECM150 представляет собой компактный и бюджетный сканирующий электрохимический микроскоп, который позволяет пользователю проводить локальное исследование электродов в любых условиях. SECM150 сочетает в себе высокую производительность и простоту использования.

Новый стандарт для исследования SECM!
Такой компактный, что он подходит для использования в перчаточном боксе!
Ультра высокое разрешение - менее 10 нм

Зондом, используемым в этом методе, является конусообразный ультрамикроэлектрод. Разрешение зависит от размера электрода. Прибор снабжен системой позиционирования, блоком управления, в котором размещаются два потенциостата / гальваностата / FRA, чтобы поляризовать как образец, так и электрод.

Сканирующий электрохимический микроскоп постоянного и переменного тока.
Измеряет локальную электрохимическую реакционную способность поверхности с использованием постоянного тока или импеданса зонда.

Зонд SECM поддерживается на постоянном расстоянии от образца. Грубые, большие, неравномерные образцы могут быть изучены с использованием этого режима с dc- или ac-SECM. В дополнение к системе ac / dc-SECM для этого требуется только дополнительный пьезоэлемент и два LIA (Lock-In Amplifier), размещенные в блоке управления.

SECM прерывистого контакта.
Измеряет локальную реакционную способность поверхности на постоянном расстоянии вместо постоянной высоты.

В этой технике предлагаются две сканирующие головки: в первом случае электролит, текущий в капле, обновляется. Во второй электролит в капле статический. Прибор включает систему позиционирования, потенциостат / гальваностат / FRA, который может быть размещена в блоке управления.

Сканирующая капельная система постоянного и переменного тока.
Использует небольшую каплю электролита и позволяет пользователю выбирать небольшую площадь образца и исследовать его с использованием классических методов электрохимии постоянного или переменного тока.

Локальный переменный ток, протекающий через образец при синусоидальной модуляции потенциала и приводящий к локальному импедансу образца, измеряется с помощью двухэлектродного зонда. Система включает в себя систему позиционирования, электрометрическую плату, плату потенциостата/ гальваностата / FRA, которые могут размещаться в блоке управления.

Локализованная электрохимическая импедансная спектроскопия.
Измеряет полный импедансный в определенной точке или пространственно разрешенном импедансе на одной частоте проводящего образца.

Сканирующая головка OSP используется с заказчиком, который позволяет выполнять все различные режимы работы. В дополнение к топографии; Толщина прозрачных пленок также может быть измерена. Система включает в себя систему позиционирования, головку OSP и плату OSP.

Оптический поверхностный профилировщик.
Измеряет топографию и шероховатость образца с использованием дифрагированного света от лазерного луча.

Измеряя потенциал металлического зонда, экранированный металлическим цилиндром, измеряется потенциал Кельвина, также называемый контактной разностью потенциалов. Прибор включает в себя систему позиционирования, электрометрическую плату, LIA (Lock-In Amplifier), все они размещаются в блоке управления.

Сканирующий зонд Кельвина.
Измеряет локальный потенциал Кельвина, который связан с контактной разностью потенциалов между наконечником и образцом.

В этом методе используется одножильный зонд для измерения разности напряжений в растворе, связанных с локальными токами, протекающими от коррозионного или поляризованного образца. Система включает в себя систему позиционирования, электрометрическую плату, LIA (Lock-In Amplifier) и, возможно, плату потенциостата / gгальваностата / FRA, которые могут размещаться в блоке управления.

Техника сканирующего вибрирующего электрода.
Измеряет локальные анодные и катодные токи от свободного коррозируемого или поляризованного образца.

С помощью этого микроскопа можно анализировать различные поверхности с необходимой точностью и высоким разрешением. Этот микроскоп работает одинаково хорошо в жидкости и в воздухе.

Сканирующий зондовый микроскоп Холла (работающий при комнатной температуре) (RT-SHPM) позволяет проводить количественные не инвазивные магнитные измерения в нанометровом масштабе.

AQUA nc-AFM отличает возможность работы с бесконтактными кантилеверами. Отличная конструкция позволяет работать с радиочастотно-модулированным лазерным диодом со сверхнизким значением уровня шума (30фм/√Гц).

hpAFM обладает замечательными характеристиками: автоматическая юстировка, XY сканер с замкнутым контуром обратной связи, независимый Z-сканер, 10 МП видеомикроскоп.