РБ, г.Минск, ул.Уманская 54
info@ilpa-tech.ru
+7 (962) 197-72-72 (WhatsApp)
+375 (17) 328-18-02
+375 (29) 626-19-06
Зонд SECM поддерживается на постоянном расстоянии от образца. Грубые, большие, неравномерные образцы могут быть изучены с использованием этого режима с dc- или ac-SECM. В дополнение к системе ac / dc-SECM для этого требуется только дополнительный пьезоэлемент и два LIA (Lock-In Amplifier), размещенные в блоке управления.
SECM прерывистого контакта.
Измеряет локальную реакционную способность поверхности на постоянном расстоянии вместо постоянной высоты.
Применение: батареи и интеркалированные соединения, коррозия и покрытия, EIS, электропокрытия, топливные ячейки и биотопливо, фундаментальная электрохимия, датчики, топография
SECM является одним из самых быстрорастущих методов, используемых в электрохимическом сканирующем зонде. Стандартная сканирующая электрохимическая микроскопия не имеет возможности определить разницу в топографических изменениях и электрохимических индуцированных изменениях. Ic-SECM - это простой способ поддерживать близость пробного образца.
Ic-SECM470 вводит совершенно новый метод для преодоления этих ограничений, используя инновационный метод позиционирования наконечника, который позволяет разрешать поверхностную топографию и активность одновременно и независимо.
Метод прерывистого контакта позволяет зонду SECM поддерживать ту же самую степень контакта с образцом в ходе сканирования.
Обычная модуляция SECM и измерение на электрохимическом зонде и образце могут быть выполнены, пока управление прерывистым контактом работает.
Для M470 можно потенциостат / гальваностат / FRA: вместо 3300, который встроен в M470, теперь можно использовать SP-300.
SECM150 устанавливает новый стандарт для исследования SECM. SECM150 представляет собой компактный и бюджетный сканирующий электрохимический микроскоп, который позволяет пользователю проводить локальное исследование электродов в любых условиях. SECM150 сочетает в себе высокую производительность и простоту использования.
Новый стандарт для исследования SECM!
Такой компактный, что он подходит для использования в перчаточном боксе!
Ультра высокое разрешение - менее 10 нм
Сканирующая головка OSP используется с заказчиком, который позволяет выполнять все различные режимы работы. В дополнение к топографии; Толщина прозрачных пленок также может быть измерена. Система включает в себя систему позиционирования, головку OSP и плату OSP.
Оптический поверхностный профилировщик.
Измеряет топографию и шероховатость образца с использованием дифрагированного света от лазерного луча.
Зонд SECM поддерживается на постоянном расстоянии от образца. Грубые, большие, неравномерные образцы могут быть изучены с использованием этого режима с dc- или ac-SECM. В дополнение к системе ac / dc-SECM для этого требуется только дополнительный пьезоэлемент и два LIA (Lock-In Amplifier), размещенные в блоке управления.
SECM прерывистого контакта.
Измеряет локальную реакционную способность поверхности на постоянном расстоянии вместо постоянной высоты.
220089, Республика Беларусь,
г.Минск, ул.Уманская 54
+7 (962) 197-72-72 (WhatsApp)
+375 (17) 328-18-02
+375 (29) 626-19-06
info@ilpa-tech.ru