Зондовые сканирующие рабочие станции

Сканирующие зондовые микроскопы: сферы применения

Высокоточные сканирующие зондовые микроскопы от Bio-logic теперь доступны и в СНГ

Новый сканирующий туннельный микроскоп ezSTM обладает превосходными характеристиками по доступной цене.для студенческих лабораторий, школ, нанотехнологических и фундаментальных исследований.

Подробнее

Портативный атомно-силовой микроскоп EZAFM

Благодаря своим малым размерам, высокой стабильности и простоте использования ezAFM идельно подходит для студенческих лабораторий, школ, нанотехнологических и фундаментальных исследований.

Подробнее

Портативный атомно-силовой микроскоп EZAFM+

ezAFM+ - еще более широкие возможности по доступной цене. ezAFM+ идельно подходит для студенческих лабораторий, школ, нанотехнологических и фундаментальных исследований

Подробнее

3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла

3D-сканирующий зондовый микроскоп Холла работает в нанометровом масштабе, измеряя одновременно Bx, By и Bz. Уникальный микроскоп для количественного и не инвазивного анализа и формирования 3D-изображения магнитных полей поверхности в нанометровом масштабе.

Подробнее

Низкотемпературный сканирующий зондовый микроскоп Холла (LT-SHPM)

В низкотемпературных сканирующих зондовых микроскопах Холла для измерения локальной плотности магнитного потока поверхности образца применяется микро/нанодатчик Холла.

Подробнее

Сканирующий микроскоп с зондом Кельвина (MK SPM)

Сканирующие микроскопы с зондом Кельвина для систем 3He и 3He и криогенных рефрижераторов для измерений при температурах ниже 1K. Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина, МСМ, СТМ, АСМ и другие режимы работы доступны в mK-SPM.

Подробнее

Бескриогенный АСМ/МСМ в безкриогенной измерительной системе (CFMS)

Бескриогенный Атомно-силовой микроскоп/Магнитно-силовой микроскоп в безкриогенной измерительной системе.

Подробнее

Низкотемпературный атомно/магнитно-силовой микроскоп (LT AFM/MFM)

Подробнее

Страница 2 из 2

Особенности сканирующих зондовых микроскопов

Зондовые микроскопы для сканирования (SPM – Scanning Probe Microscope) формируют с помощью зонда изображение поверхности объекта. С помощью СЗМ получают цифровую трехмерную картину микроструктуры объектов: атомной решетки, живой клетки, строения высокомолекулярных соединений, интегральной микросхемы, и другое.

Красные кровяные клетки

Органический монокристалл

Кобальт на сапфире

Зондовый микроскоп сканирует поверхность объекта зондом для получения пространственной картинки или обсервации локальных свойств при значительных увеличениях. СЗМ может регистрировать несколько взаимодействий одновременно. Разрешающая способность для различных видов СЗМ варьируется от субмикронной до атомной.

Наноструктурированный моносубстрат

Многостенные углеродные нанотрубки

Поликапролактон

Пьезоэлектрические двигатели обеспечивают прецизионные перемещения с субнанометровой точностью. Изображение получают механическим перемещением сканирующего зонда по траектории в виде растра с регистрацией координат положения.

Принцип действия

Работа СКМ вызвана взаимодействием зонда с плоскостью образца. Движение происходит по двум или трем координатам. Сближение зонда с поверхностью осуществляется плавно. Механическая стабильность менее 0,1 ангстрема. Прецизионная система развертки. При небольшом промежутке между зондом и образцом взаимодействие сил проявляется различными эффектами.

Регистрация результатов производится высокочувствительными сенсорами. Устройство может «чувствовать» распределение магнитных полей над поверхностью, строить карту вольт-амперных характеристик или определять степень адгезивности в каждой точке исследуемого участка. СЗМ строит карту поверхности с точными количественными значениями измеряемого параметра в каждой точке.