M370 - OSP

Области применения: Коррозия и покрытия, Топография

Характеристики:

Диапазон измерения: 10 мм

  • Исходное расстояние: 30 мм
  • Максимальное вертикальное разрешение (статическое): 100 нм
  • Размер пятна: 30 мкм при фокусировке
  • Скорость сканирования: 2 мм / с
  • Усредненное массовое считывание: Да
  • Правильное позиционирование: красный свет / зеленый свет
  • Диапазон сканирования (x, y, z): 70 мм
  • Источник света: полупроводниковый лазер класса 650 нм класса 2 макс. 0,95 мВт

Технические характеристики системы позиционирования

Шаговые двигатели

  • Диапазон сканирования (x, y, z) мм: 70 мм x 70 мм x 70 мм.
  • Минимальный размер шага по всем осям: 1 мкм
  • Контур с линейным нулевым гистерезисом с замкнутым контуром с прямым считыванием в реальном времени смещения по x, y и z
  • Разрешение датчика линейного положения: 100 нм.
  • Максимальная скорость сканирования: 2 мм / с.
  • Разрешение измерений: 16 бит при 100 кГц.

Измерение шероховатости поверхности и особенностей топографии.

Используя бесконтактный датчик перемещения лазера, модуль OSP370 обеспечивает быстрое и точное бесконтактное измерение поверхности с очень высокой точностью. Характеристики менее одного микрометра могут быть отображены и измерены в диапазоне измерения высоты 10 мм, не касаясь поверхности образца.

Оптический поверхностный профилометр OSP370 оснащен датчиком перемещения CCD, установленным на сканирующей головке рабочей станции M370. Небольшое пятно лазерного излучения 650 нм проецируется вниз на поверхность образца, а рассеянный свет фокусируется на матрицу CCD, позволяющую измерять прямое смещение рассеянного света. Это позволяет формировать очень точный профиль поверхности всей области и, таким образом, измерять шероховатость поверхности и особенности топографии.

Самое главное, что модуль OSP370 позволит впоследствии использовать сгенерированные данные, чтобы изменить высоту зонда в любой другой электрохимии, поэтому зонд может сканировать по неровным поверхностям, сохраняя при этом постоянное расстояние от зонда от образца.

Возможно, Вас так же заинтересует:

Локальный переменный ток, протекающий через образец при синусоидальной модуляции потенциала и приводящий к локальному импедансу образца, измеряется с помощью двухэлектродного зонда. Система включает в себя систему позиционирования, электрометрическую плату, плату потенциостата/ гальваностата / FRA, которые могут размещаться в блоке управления.

Локализованная электрохимическая импедансная спектроскопия.
Измеряет полный импедансный в определенной точке или пространственно разрешенном импедансе на одной частоте проводящего образца.

В этом методе предлагаются две сканирующие головки: в первом случае электролит, текущий в капле, обновляется. Во втором электролит в капле статический. Система включает в себя систему позиционирования, два блока управления, в которых размещаются потенциостат-гальваностат и элемент управления позиционированием.

Чередование и постоянный ток.
Использует небольшую каплю в качестве электролита и позволяет пользователю выбирать небольшую площадь образца и исследовать его с использованием классических методов электрохимии постоянного тока.

SECM150 устанавливает новый стандарт для исследования SECM. SECM150 представляет собой компактный и бюджетный сканирующий электрохимический микроскоп, который позволяет пользователю проводить локальное исследование электродов в любых условиях. SECM150 сочетает в себе высокую производительность и простоту использования.

Новый стандарт для исследования SECM!
Такой компактный, что он подходит для использования в перчаточном боксе!
Ультра высокое разрешение - менее 10 нм

Связаться с нами

Если у Вас остались вопросы или вы хотите заказать
продукцию, просто заполните форму ниже

Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
Неверный ввод
  • 220089, Республика Беларусь,
    г.Минск, ул.Уманская 54

  • +375 (17) 328-18-02

    +375 (29) 626-19-06

  • info@ilpa-tech.ru

  • Связаться с нами